溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數量4(可增加)
探針材質紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質及尺寸銀質,35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
探針臺(Probe Station)是一種用于半導體行業的設備,主要用于集成電路(IC)和其他電子器件的電氣測試和分析。它能夠將微小的探針與芯片上的接觸點進行對接,從而測量電流、電壓和其他電氣特性。
探針臺的主要功能和特點包括:
1. **高精度定位**:探針臺通常配備高精度的定位系統,能夠對準芯片上的測試點。
2. **溫度控制**:一些探針臺具備溫度控制功能,可以在不同的溫度條件下進行測試,以模擬實際工作環境。
3. **多探針測試**:許多探針臺可以支持多根探針同時使用,以提高測試效率和準確性。
4. **真空環境**:部分探針臺還可以在真空環境下進行測試,以減少外界環境對測試結果的影響。
5. **軟件集成**:現代探針臺通常與測試軟件連接,便于數據采集、分析和結果展示。
探針臺廣泛應用于半導體研發、可靠性測試、故障分析等領域,是芯片設計驗證和性能評估的重要工具。
探針夾具是一種用于電子測試和信號測量的設備,它的主要功能包括:
1. **信號接觸**:探針夾具可以地與電路板上的測試點接觸,從而獲取信號或電源。這對于電路功能測試和調試至關重要。
2. **高精度定位**:探針夾具通常具有高精度的定位功能,可以確保探針準確接觸到*的測試點,提高測試的可靠性和準確性。
3. **自動化測試**:隨著自動化測試技術的發展,探針夾具常常與自動測試設備(ATE)配合使用,實現的自動化測試,提高測試效率和一致性。
4. **適應性強**:探針夾具通常設計為可以適應不同規格的PCB(印刷電路板),支持多種類型的測試點,如焊盤、引腳等。
5. **減少干擾**:良好的探針夾具設計可以減少在測試過程中可能引入的干擾,提高測量的準確性。
6. **多通道測試**:一些的探針夾具可以支持多通道同時測試,提高測試的效率,特別是在批量生產測試中具有明顯的優勢。
總的來說,探針夾具在電子產品的研發、測試和生產過程中起到了重要的作用,能夠有效提高測試的效率和準確性。

同軸真空饋通件是一種用于電子設備的連接器,主要用于在真空環境中傳輸信號。其特點包括:
1. **優良的信號傳輸性能**:同軸結構能夠有效地減少信號的損耗和反射,保證信號的質量。
2. **良好的屏蔽性能**:同軸設計可提供較好的電磁干擾屏蔽,防止外部干擾信號影響傳輸質量。
3. **耐高真空特性**:專門設計用于在真空環境中工作,不易受到氣體和水分的影響,適用于真空設備,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能夠承受較高的功率水平,適合用于高功率射頻應用。
5. **機械穩定性**:結構堅固,能夠經受一定的機械應力和溫度變化。
6. **便于安裝和維護**:設計通常考慮到易于安裝和維護,便于與其他設備連接。
7. **多種接口類型**:可根據需要提供不同類型的連接器接口,以適應應用場景。
以上這些特點使得同軸真空饋通件在通信、射頻設備及實驗物理等領域具有廣泛的應用前景。

微型高低溫真空探針臺是一種用于電子材料和器件測試的精密儀器,具備以下幾個主要特點:
1. **高低溫測試能力**:能夠在極低溫(如液氮溫度)到高溫(如400°C以上)范圍內進行測試,適用于不同溫度環境下的材料性能研究。
2. **真空環境**:探針臺設計用于在高真空條件下操作,減少氧化和污染,確保測試結果的準確性和重復性。
3. **高精度探測**:配備高精度的探針和測量系統,能夠準確獲取微小電流、電壓等信號,適用于微小尺度器件的電測量。
4. **微型化設計**:體積小巧,便于在有限空間內進行操作,適合于微電子器件、納米材料等研究。
5. **靈活的樣品裝配**:通常具有友好的樣品夾具設計,便于不同類型和尺寸的樣品裝配和更換。
6. **多功能性**:可能支持多種測試模式,如直流測試、交流測試、霍爾效應測試等,適用范圍廣。
7. **易于連接**:可與其他測試設備(如示波器、信號發生器等)快速連接,便于進行綜合測試。
總之,微型高低溫真空探針臺在材料科學、半導體研究和納米技術等領域中具有重要的應用價值。

真空探針臺是一種用于微電子器件測試與研究的精密儀器,其主要功能包括:
1. **電學測試**:能夠對半導體器件進行電性能測試,如IV(電流-電壓)特性測試、CV(電容-電壓)特性測試等。
2. **高真空環境**:提供高真空或真空環境,減少氣體分子對測試結果的干擾,特別是在處理空氣敏感材料或量子特性研究時尤為重要。
3. **微觀定位**:由于其高精度的定位功能,能夠對微小結構進行接觸和掃描,適用于納米尺度設備的測試。
4. **冷熱測試**:部分真空探針臺配備溫控系統,可以在低溫或高溫條件下進行測試,以研究材料和器件在不同溫度下的特性。
5. **材料表征**:能夠對薄膜、納米材料等進行表征,分析其電學性質、表面狀態等。
6. **集成化測試**:可以與其他儀器(如掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等)聯用,進行更深入的材料或器件分析。
總之,真空探針臺是半導體研究、材料科學等領域中的重要設備。
高低溫真空探針臺是一種專門用于材料和器件測試的設備,廣泛應用于以下領域:
1. **半導體研究**:用于測試半導體材料、器件(如晶體管、二極管等)的電性能和熱性能,尤其是在極端溫度條件下的表現。
2. **納米材料**:適合對納米材料進行電學性能測試,研究其在不同溫度和真空條件下的特性。
3. **物理學和材料科學研究**:可用于基本物理實驗,如測量材料的電導率、熱導率等,以及研究材料在高低溫下的相變行為。
4. **太陽能電池**:用于太陽能電池材料的測試,以評估其在不同溫度和環境條件下的效率和穩定性。
5. **傳感器及MEMS器件**:對傳感器和微機電系統(MEMS)的性能進行評估,確保其在實際應用中的可靠性。
6. **實驗室研發**:研究人員在新材料開發過程中,可以使用探針臺進行電學和熱學測試。
總之,高低溫真空探針臺適用于多種需要在高低溫及真空條件下進行測試的高科技領域。
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