溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數量4(可增加)
探針材質紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質及尺寸銀質,35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
同軸真空饋通件是一種用于連接同軸電纜和真空腔體的特殊組件,廣泛應用于微波、射頻和粒子加速器等領域。其主要作用是通過真空環境將射頻信號有效地傳輸到真空腔內,并且保持真空系統的完整性。
同軸真空饋通件通常由導電材料制造,具備良好的電氣性能和機械強度,以確保在信號傳輸過程中的低損耗和穩定性。該設備的設計需要考慮以下幾個方面:
1. **頻率特性**:饋通件的設計需要滿足特定的工作頻率范圍,確保信號的有效傳輸。
2. **真空密封性**:為了保持系統的真空狀態,饋通件必須具有良好的密封性能,常見的密封方式包括O型圈密封和焊接等。
3. **熱管理**:在高功率應用中,饋通件可能會產生熱量,需要進行適當的熱管理設計,以防止過熱導致性能下降或損壞。
4. **材料選擇**:通常使用高導電性材料(如銅或鋁)制造導電部分,而外殼可能使用不銹鋼等耐腐蝕材料,以適應不同的應用環境。
同軸真空饋通件在無線通信、系統、粒子物理實驗等領域有著廣泛的應用,是實現信號傳輸的重要組成部分。
探針臺(Probe Station)是一種用于半導體和微電子測試的設備,主要用于在實驗室環境中對芯片或材料進行電學性能測試。它的主要功能包括:
1. **電氣測試**:探針臺配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點,進行電性能測試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進行測試,以評估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環境**:某些探針臺可以在真空環境下操作,以減少空氣對測試結果的影響,尤其是在某些敏感實驗中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺通常配備有顯微鏡,可以對芯片進行觀察,幫助技術人員準確定位探針和分析測試結果。
5. **自動化測試**:一些探針臺能夠與計算機系統配合,實現自動化操作和數據采集,提高測試效率和準確性。
6. **多功能擴展**:探針臺可以與其他設備(如信號發生器、示波器等)聯動,進行更復雜的電氣測試和分析。
探針臺廣泛應用于半導體制造、材料科學、電子工程等領域,是研究和開發新型電子元件的重要工具。

探針臺卡盤(Probing Station Chuck)在半導體測試和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **樣品固定**:探針臺卡盤能夠穩固地固定待測試的半導體芯片或其他樣本,確保在測試過程中樣品不發生移動。
2. **定位**:通過高精度的微調機制,卡盤可以實現樣品的定位,以便于探針與樣品上的特定點進行接觸。
3. **溫度控制**:一些的探針臺卡盤配備了溫度控制功能,可以在不同的溫度條件下進行測試,以研究溫度對電性能的影響。
4. **電氣連接**:卡盤通常與探針陣列一起工作,通過探針與樣品接觸,實現電氣信號的傳輸,允許測試電性能參數。
5. **兼容性**:探針臺卡盤設計通常具有良好的兼容性,可以與不同類型和尺寸的樣本以及探針頭配合使用。
6. **環境控制**:一些探針臺卡盤具備氣氛控制功能,可以在特定氣氛(如氮氣或真空環境)中進行測試,以降低氧化和其他環境影響。
總的來說,探針臺卡盤在半導體研發和制造過程中扮演著至關重要的角色,它不僅提高了測試的性,還為研究提供了的實驗條件。

探針臺卡盤(probe station chuck)是用于半導體測試和材料研究的重要設備,其特點包括:
1. **高精度**:探針臺卡盤通常具有高精度的定位能力,能夠確保探針與測試樣品之間的對接,從而提高測試的準確性。
2. **溫控能力**:許多探針臺卡盤配備有溫度控制系統,可以在升溫或降溫的情況下進行測試,幫助研究人員觀察材料在不同溫度下的性能變化。
3. **真空功能**:某些探針臺卡盤具有真空夾緊功能,可以確保樣品在測試過程中固定穩定,減少外部干擾。
4. **兼容性強**:探針臺卡盤通常設計為兼容多種類型的測試探針和測試儀器,方便用戶進行不同類型的實驗。
5. **靈活性**:探針臺卡盤可以適應不同尺寸和形狀的樣品,提供多種夾持方式,以滿足不同測試需求。
6. **性能**:針對信號測試的需求,一些探針臺卡盤具備良好的性能,能夠有效降低信號衰減和反射。
7. **用戶友好的操作界面**:現代探針臺常配備直觀的控制系統,便于用戶對設備進行調整和設置。
8. **耐用性**:探針臺卡盤通常采用量材料制造,以確保設備的耐久性和穩定性,在復雜環境下也能長期使用。
綜合以上特點,探針臺卡盤在半導體測試、材料研究等領域中扮演著關鍵角色,極大地推動了相關技術的發展。

真空探針臺是一種用于微電子和材料科學領域的高精度測試設備,主要用于對半導體wafer、材料樣品的電氣特性進行測量。其特點主要包括:
1. **高真空環境**:真空探針臺能夠在高真空條件下工作,減少氣體分子對測試過程的干擾,提高測量的準確性和重復性。
2. **高精度定位**:該設備通常配備高精度的定位系統,可以對準探針與樣品的接觸點,確保測量的準確性。
3. **多樣化探針選擇**:真空探針臺支持多種類型的探針,可根據不同的實驗需求進行更換,適應不同的測試任務。
4. **溫度控制功能**:許多真空探針臺配備了溫度控制系統,能夠在特定溫度下進行測量,對于研究材料的溫度依賴特性尤為重要。
5. **高靈敏度測量**:在真空條件下,探針臺能夠進行更高靈敏度的電氣測量,適合于低信號的測量任務。
6. **兼容性強**:真空探針臺通常可以與多種測試設備協同使用,如網絡分析儀、示波器等,滿足多種測試需求。
7. **自動化程度**:現代真空探針臺往往具備自動化控制系統,能夠實現自動對焦、掃描和數據采集,提高實驗效率。
8. **適用范圍廣泛**:真空探針臺不僅可用于半導體行業,還可廣泛應用于材料測試、納米技術、生物傳感器等多個領域。
總體而言,真空探針臺是進行精細化電氣測試的重要工具,其特性使其在科研和工業應用中具有的地位。
高低溫真空探針臺是一種專門用于材料和器件測試的設備,廣泛應用于以下領域:
1. **半導體研究**:用于測試半導體材料、器件(如晶體管、二極管等)的電性能和熱性能,尤其是在極端溫度條件下的表現。
2. **納米材料**:適合對納米材料進行電學性能測試,研究其在不同溫度和真空條件下的特性。
3. **物理學和材料科學研究**:可用于基本物理實驗,如測量材料的電導率、熱導率等,以及研究材料在高低溫下的相變行為。
4. **太陽能電池**:用于太陽能電池材料的測試,以評估其在不同溫度和環境條件下的效率和穩定性。
5. **傳感器及MEMS器件**:對傳感器和微機電系統(MEMS)的性能進行評估,確保其在實際應用中的可靠性。
6. **實驗室研發**:研究人員在新材料開發過程中,可以使用探針臺進行電學和熱學測試。
總之,高低溫真空探針臺適用于多種需要在高低溫及真空條件下進行測試的高科技領域。
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