溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮氣),配水冷接口
微型高低溫真空探針臺是一種用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究和納米技術(shù)等領(lǐng)域的精密測試設(shè)備。它能夠在真空環(huán)境中對樣品進(jìn)行高溫或低溫測試,從而研究材料的電學(xué)、熱學(xué)和光學(xué)特性。以下是一些微型高低溫真空探針臺的主要特點和功能:
1. **溫控范圍**:能夠在極低溫(如液氮溫度)到高溫(如500°C以上)之間進(jìn)行調(diào)節(jié),滿足不同研究需求。
2. **真空環(huán)境**:通過真空系統(tǒng),可以有效減少氧化和污染,確保測試過程中樣品的純凈性。
3. **微型設(shè)計**:按照微型化的設(shè)計,可以方便地與實驗設(shè)備結(jié)合,適用于小尺寸樣品的測試。
4. **高精度探針**:配有高精度的探針,可以實現(xiàn)對材料的電性、熱性等特性的測量。
5. **多功能性**:一些型號可能具備多種功能,包括四探針電阻測量、霍爾效應(yīng)測試等。
6. **數(shù)據(jù)采集與分析**:通常配備相關(guān)軟件,可以實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時采集與分析,便于科研人員進(jìn)行后續(xù)研究。
微型高低溫真空探針臺在半導(dǎo)體器件、超導(dǎo)材料、熱電材料等領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用,是科研和實驗室的工具。
同軸真空饋通件是一種用于電子設(shè)備的連接器,主要用于在真空環(huán)境中傳輸信號。其特點包括:
1. **優(yōu)良的信號傳輸性能**:同軸結(jié)構(gòu)能夠有效地減少信號的損耗和反射,保證信號的質(zhì)量。
2. **良好的屏蔽性能**:同軸設(shè)計可提供較好的電磁干擾屏蔽,防止外部干擾信號影響傳輸質(zhì)量。
3. **耐高真空特性**:專門設(shè)計用于在真空環(huán)境中工作,不易受到氣體和水分的影響,適用于真空設(shè)備,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能夠承受較高的功率水平,適合用于高功率射頻應(yīng)用。
5. **機械穩(wěn)定性**:結(jié)構(gòu)堅固,能夠經(jīng)受一定的機械應(yīng)力和溫度變化。
6. **便于安裝和維護(hù)**:設(shè)計通常考慮到易于安裝和維護(hù),便于與其他設(shè)備連接。
7. **多種接口類型**:可根據(jù)需要提供不同類型的連接器接口,以適應(yīng)應(yīng)用場景。
以上這些特點使得同軸真空饋通件在通信、射頻設(shè)備及實驗物理等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。

探針臺(Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體和微電子測試的設(shè)備,主要用于在實驗室環(huán)境中對芯片或材料進(jìn)行電學(xué)性能測試。它的主要功能包括:
1. **電氣測試**:探針臺配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點,進(jìn)行電性能測試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進(jìn)行測試,以評估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環(huán)境**:某些探針臺可以在真空環(huán)境下操作,以減少空氣對測試結(jié)果的影響,尤其是在某些敏感實驗中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺通常配備有顯微鏡,可以對芯片進(jìn)行觀察,幫助技術(shù)人員準(zhǔn)確定位探針和分析測試結(jié)果。
5. **自動化測試**:一些探針臺能夠與計算機系統(tǒng)配合,實現(xiàn)自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高測試效率和準(zhǔn)確性。
6. **多功能擴展**:探針臺可以與其他設(shè)備(如信號發(fā)生器、示波器等)聯(lián)動,進(jìn)行更復(fù)雜的電氣測試和分析。
探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域,是研究和開發(fā)新型電子元件的重要工具。

高低溫真空探針臺是一種用于材料和半導(dǎo)體器件測試的精密設(shè)備,其特點包括:
1. **溫度范圍廣**:能夠在極低溫(例如液氮溫度)到高溫(例如700℃以上)之間進(jìn)行測試,適用于不同材料和器件的特性分析。
2. **真空環(huán)境**:提供高真空或真空環(huán)境,減少氧化和污染,提高測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
3. **高精度探針**:配備高精度的探針,可以對微小區(qū)域進(jìn)行測量,適用于微電子器件和納米材料的測試。
4. **自動化設(shè)置**:許多高低溫真空探針臺配備自動化控制系統(tǒng),可以實現(xiàn)溫度和壓力的準(zhǔn)確控制,提高測試效率。
5. **多功能性**:支持多種測試方法,如電學(xué)測試、熱學(xué)測試、光學(xué)測試等,適用于不同類型的材料和器件。
6. **良好的熱管理**:采用的熱傳導(dǎo)和絕熱技術(shù),確保在高低溫環(huán)境中設(shè)備的穩(wěn)定性和測試的可靠性。
7. **數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)**:配備的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng),能夠?qū)崟r監(jiān)控和記錄測試數(shù)據(jù),方便后續(xù)分析。
8. **模組化設(shè)計**:很多探針臺采用模組化設(shè)計,用戶可以根據(jù)需要更換不同的探針或附件,提高設(shè)備的靈活性。
這些特點使得高低溫真空探針臺在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)及微電子器件測試等領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用。

微型高低溫真空探針臺是一種用于電子材料和器件測試的精密儀器,具備以下幾個主要特點:
1. **高低溫測試能力**:能夠在極低溫(如液氮溫度)到高溫(如400°C以上)范圍內(nèi)進(jìn)行測試,適用于不同溫度環(huán)境下的材料性能研究。
2. **真空環(huán)境**:探針臺設(shè)計用于在高真空條件下操作,減少氧化和污染,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
3. **高精度探測**:配備高精度的探針和測量系統(tǒng),能夠準(zhǔn)確獲取微小電流、電壓等信號,適用于微小尺度器件的電測量。
4. **微型化設(shè)計**:體積小巧,便于在有限空間內(nèi)進(jìn)行操作,適合于微電子器件、納米材料等研究。
5. **靈活的樣品裝配**:通常具有友好的樣品夾具設(shè)計,便于不同類型和尺寸的樣品裝配和更換。
6. **多功能性**:可能支持多種測試模式,如直流測試、交流測試、霍爾效應(yīng)測試等,適用范圍廣。
7. **易于連接**:可與其他測試設(shè)備(如示波器、信號發(fā)生器等)快速連接,便于進(jìn)行綜合測試。
總之,微型高低溫真空探針臺在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究和納米技術(shù)等領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用價值。
真空探針臺是一種用于半導(dǎo)體、微電子和納米技術(shù)等領(lǐng)域的高精度測試設(shè)備,適用于以下幾個方面:
1. **半導(dǎo)體測試**:用于對集成電路(IC)、功率器件、傳感器等半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測試,包括IV曲線測量、CV特性測試等。
2. **材料科學(xué)**:用于研究和測試薄膜材料、納米材料等在不同環(huán)境下的電學(xué)特性。
3. **微機電系統(tǒng)(MEMS)**:對MEMS器件進(jìn)行電氣測試和性能評估,尤其是在真空環(huán)境下進(jìn)行的測試。
4. **封裝測試**:用于對芯片封裝后進(jìn)行的性能測試,確保封裝過程影響芯片性能。
5. **研發(fā)和實驗室應(yīng)用**:研究機構(gòu)和高校可以利用真空探針臺進(jìn)行實驗室研究,進(jìn)行新材料和器件的開發(fā)。
6. **測試**:一些應(yīng)用中,真空環(huán)境可以減少信號衰減和噪聲,適合微波器件和電路的測試。
真空探針臺能夠提供穩(wěn)定的測試環(huán)境和高精度的測量,有助于研究人員和工程師獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和結(jié)果。
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